红外光谱发射率测试仪

红外光谱发射率测试仪是为物体表面发射率测量设计的FTIR红外光谱仪器,可有效测量物体的红外辐射光谱。
表面发射率在精确测量表面温度、热辐射换热以及涂层和反射面的性能等方面起着重要的作用。实际表面的发射率通常随波长变化，可以用FTIR光谱仪进行高精度测量。
已知温度下黑体和样品的光谱强度通过傅里叶变换红外光谱（FTIR）光谱仪在近红外和红外光谱范围内测量样品的光谱发射率，例如光谱范围为1至25µm。该红外光谱发射率测试仪
可用于典型的1英寸样品，但也可用于电线、加热器，有光泽的表面等。

图1：黑体源（左）在光谱发射率测量中用作参考，样品安装在样品加热器上，温度范围从环境温度到500°C。样品温度由直径为0.5 mm的热电偶测量。

图2：在180°C下对客户样品“R1”进行系统性能测试（红色曲线）。黑色曲线为发射率测量，采用替代FTIR实验室设置。用8 cm-1的光谱分辨率和200次扫描（大约2分钟的测量时间）收集FTIR光谱。