高灵敏度薄膜涂层测厚仪

高灵敏度薄膜涂层测厚仪是美国进口的全球超薄薄膜和涂层厚度测量仪器,高灵敏度薄膜涂层测厚仪具有超薄薄膜厚度绘制和涂层厚度绘图功能。
高灵敏度薄膜涂层测厚仪特点
使用**性的红外反射吸收光谱技术，
能够测量低至单层薄膜的厚度，
它的测量斑点zui小可到3x28mm，
非常适合整个表面的薄膜厚度测量绘制。

*多表面残留检测仪器请浏览：http://www.f-lab.cn/canliuceliang.html